HAST老化試驗箱廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此HAST老化試驗箱用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。用較少的時間就可完成對產(chǎn)品的濕度的測試。在100℃以上的溫度下，通過提高和增加壓力，可以模擬正常濕度測試，同時保持相同的故障機制。幾小時或幾天就能通過產(chǎn)品的老化測試，大大節(jié)省了產(chǎn)品開發(fā)周期。

　　如今HAST老化試驗箱可依客戶需求定制非標環(huán)境試驗設備，在環(huán)境可靠度測試設備產(chǎn)業(yè)領域累積豐富的產(chǎn)品研發(fā)經(jīng)驗，充分掌握關鍵零組件的開發(fā)，對于材料應用、制程技術、檢測設備等能力，不斷自我挑戰(zhàn)追求良好成本效益，發(fā)揮制造優(yōu)勢及系統(tǒng)整合服務。憑借現(xiàn)代化企業(yè)管理，迎合環(huán)境試驗設備發(fā)展前沿，將安全實用、節(jié)能環(huán)保完美糅合，不斷突破技術壁壘。